Difracción de Rayos X





Los rayos X se utilizan para determinar la forma y el tamaño de las células fundamenta­les y las posiciones de las partículas dentro de días porque tienen longitudes de onda del mismo tamaño que las distancias entre los planos de mallas paralelas adyacentes en los cristales. Un cristal girando es irradiado con un haz de rayos X homogéneo [A]. El haz es difractado (desviado) al pasar entre las partículas de planos adyacentes [B], actuan­do como si fuera reflejado por los planos, y la interferencia produce un dibujo de intensida­des variables que es registrado en una pelícu­la fotográfica cilíndrica [A] o en una placa plana [C] o con instrumentos de detección. A intensidad máxima, la distancia (d) entre los planos, la longitud de onda (L) de los rayos X y el ángulo de incidencia (w) del haz sobre los planos están relacionados por la ley de Bragg: L= 2d sen(w). Usando rayos X de longitudes de onda conocidas y midiendo los ángulos de incidencia a los que ocurre la di­fracción se pueden calcular las distancias en­tre los planos y los tamaños y posiciones de las partículas. La síntesis de Fourier (un cálculo matemático) de las muchas intensida­des de rayos X difractados proporciona una imagen en relieve de los átomos o iones en una molécula o célula fundamental de un cristal.

los rayos X

Los rayos X son dispersados en distintas direcciones por las mallas cristalinas, en función de la distancia entre los planos de las mallas. En el aparato de difracción [A], la fuente [1 ] genera rayos X de longitud de onda simple que inciden en un cristal orientado [2] colocado en un soporte giratorio [3]. Según la ley de Bragg, se produce difracción cuando el haz pasa entre los planos de la malla [B]. Los rayos difractados están en fase en ciertos ángulos, dibujando líneas curvas en una tira de película fotográfica [C] colocada en el interior [4] del aparato de difracción. En un mismo cristal pueden existir diferentes planos [D], cada uno de ellos con orientación diferente.



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